XiChip - Čipy sensorů a technologie pro rentgenové zobrazování

Projekt je zaměřen na využití a další prohloubení existujícího know-how a jeho převedení do technologie výroby zobrazovacích kamer pro různé typy záření. Kamery se využívají např. pro rentgenové zobrazování v medicíně, nedestruktivní testování v průmyslu, nebo v elektronové mikroskopii. Projekt se týká vývoje čipů sensorů a návazných technologií. Budou tím významně zlepšeny základní parametry zobrazovacích systémů s důrazem na: větší citlivou plochu, vyšší citlivost, nižší obrazový šum a vyšší kontrast, vyšší dlouhodobou stabilitu a nižší četnost poruch. Výsledkem projektu budou funkční vzorky a prototypy nových typů rentgenových obrazových snímačů s velmi dobrou uplatnitelností na globálním trhu.

XiChip ADVACAM
Vliv nestabilit na kvalitu obrázku: Rentgenová radiografie plošného spoje bez korekcí (srovnej s Obr.2.) ukazuje artefakty způsobené poruchami krystalu CdTe sensoru a jejich časový vývoj. Potlačení těchto nedostatků může výrazně zvýšit stabilitu detektoru, snížit obrazový šum a rozšířit dynamickou škálu zachyceného obrazu.

 

Hlavním záměrem předkládaného projektu je využít kombinaci know-how a technologií všech členů konsorcia k posunutí současných limitů technologie výroby kamer pro rentgenové zobrazování. To současně vede k rozšíření potenciálního aplikačního pole této technologie. V rámci projektu budou implementovány nové poznatky do několika funkčních vzorků a prototypů nových zařízení. Cílem je optimalizovat čipy sensorů a významně tak zlepšit základní parametry zobrazovacích systémů s důrazem na: větší citlivou plochu, vyšší citlivost, nižší obrazový šum a vyšší kontrast, vyšší dlouhodobou stabilitu a nižší četnost poruch. Vyvinutá zařízení budou otestována v několika typických aplikacích s cílem oslovit současné i nové klienty.

 

 

XiChip ADVACAM
Příklady 3D senzoru multivrstvého readout čipu UKP lasery v rámci proof of concept testu. Přesnost úběru umožnila odhalit nejhlubší metalickou masku CMOS čipu.
ADVACAM XiChip
Příklady 3D opracování povrchu Si senzoru

 

 

Grant provider
TAČR (Technologická agentura České republiky)
Programme
TREND
Link to CEP
https://starfos.tacr.cz/en/projekty/FW10010210?query=44zyaacrd2zq
Partners

- ADVACAM s.r.o.
- Univerzita Karlova – Matematicko-fyzikální fakulta
- HOFMAISTER s.r.o.

Supervisor
Eliška Soharová
Contact
eliska.soharova@advacam.cz